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AT810A 精密LCR 數字電橋
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RS232RS485USBHANDLER
GPIB選件
SCPIMODBUS
數據記錄U盤存儲
概覽
    AT810A 采用高性能處理器,使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測試儀器。依賴于安柏精湛的技術,使其性能無可挑剔。

    內建10Hz~20kHz 任意測試頻率設置,分辨率0.001Hz,并且提供任意電平設置,分辨率0.01V,使其能完全滿足多數生產現場的使用。

    使用安柏成熟的實時儀器操作系統,全中文菜單界面,使AT810A具有傻瓜式操作界面。

    增強自動分選機接口,30次/秒的測試速度,超高穩定性,為全自動設備做好準備。

    內置RS-232接口,兼容SCPI編程語言,很容易與計算機通訊,完成所有儀器功能。

    內置Handler 14檔分選接口,配合RS-232接口完成復雜的自動控制系統。
特征
  • 高亮度,真彩LCD顯示。
  • 校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。
  • 10組文件管理,可完全存儲儀器狀態和比較器設置。
  • 增強型比較器(分選)功能:可編程的P1~P9 9檔分選,主參數HI,IN,LO顯示和輸出,NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。
  • 絕對偏差(ABS)比較方式和相對偏差比較方式。
  • 根據標稱值自動量程選擇。
  • 可開關的附屬檔(AUX)分選。
  • 可編程1~256次平均次數,提供穩定性。
  • 內置RS232C接口和Handler接口。
  • 1000V超強沖擊保護
規格
測量參數Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
基本準確度0.05%
測試頻率10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
測試量程自動、手動和標稱量程,9量程
測試速度30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒
顯示范圍L: 0.00001μH-9999.99H
C: 0.00001pF – 9999.99μF
R,X,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ
D, 0.00001 – 9.99999
Q: 0.00001 – 99999.9
Δ%: -999999% - 999999%
θ(deg): -179.999° -179.999°
θ(rad):-3.14159 – 3.14159
DCR: 0.00001Ω ~ 99.9999MΩ
輸出阻抗30Ω,50Ω 和100Ω
監視參數Z, D, Q, θr, θd, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, Δ, Δ%
讀數所有參數全6位:999999
等效方式串聯和并聯等效
信號電平10.00mV~2.00V AC
100.0μA~20.00mA AC
平均次數1~256
觸發方式內部、手動、外部和遠程
觸發延時0.01ms~60s
比較器14檔分選,10組合格檔,1組不合格檔,
1組副參數不合格檔
檔計數功能:檔計數999999
列表掃描10步(頻率、電壓和電流)
比較方式SEQ/ABS/PER
校準開路清零、短路清零(掃頻和點頻)
文件內部存儲10個文件
外部USB存儲10個文件
數據記錄9999 組文件(.csv)
訊響功能關/合格/不合格
接口RS232/USB/HANDLER(標配) RS485/GPIB(可選)
(*RevE)
通訊協議SCPI/Modbus*
(*RevE)
其它功能自動LCZ
電源要求AC 100V-240V, 50Hz-60Hz
20W MAX
尺寸與重量264 (寬)x107(高)x350 (深)
3kg,凈重
應用
    電感器、磁芯、電容器、電阻器、變壓器等元件和材料測量
文檔
文檔
宣傳手冊 中文(CN)

|

英文(EN)
用戶手冊 中文(CN)

|

英文(EN)
附件
標配

ATL108

ATL108

RS232通訊電纜

ATL501A

ATL501A

四端開爾文測試盒

ATL600

ATL600

短路片(數字電橋、電容電感測試儀用)

ATL601

ATL601

徑向元件測試夾具

選件

ATL508

ATL508

SMD元件測試鉗

ATL508A

ATL508A

SMD元件測試鉗

ATL608

ATL608

SMD貼片夾具

軟件
安柏通訊助手
Rev.4.23

中文版

應用程序

免費軟件

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CH340 USB 驅動程序
Rev.A1.0

驅動程序

系統

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Rev.A1.0

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應用程序

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  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(連續頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(37點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~100kHz(16頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50/60/100/120/200/400/500/1k/2k/4k/5k/10k/20k/40k/100kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次 / 秒 10 次 / 秒,5 次 / 秒,

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~200kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~100kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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AT610D

  • 測量參數: C,D
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,6量程
  • 測試速度: 3 次/秒 8次/秒 20次/秒

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AT810

  • 測量參數: L,C.R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動,6量程
  • 測試速度: 15 次/秒, 5 次/秒, 3 次/秒

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AT810D

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動量程,6量程
  • 測試速度: 2 次 / 秒,5 次 / 秒

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AT817D

  • 測量參數: L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,
  • 20kHz,40kHz,50kHz, 100kHz(10 點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,6量程

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AT825

  • 測量參數: 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz,10kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

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AT826

  • 測量參數: 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT2617

  • 測量參數: Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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AT827

  • 測量參數: C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒

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AT828

  • 測量參數: C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz,50kHz和100kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒
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