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AT810 LCR 數字電橋
過時
推薦型號: AT3810A
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RS232HANDLER
SCPI
概覽
    此產品已經過時。

    AT810 采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測試儀器。大規模的貼片技術的運用,使得AT810僅需微型機箱即可容納。依賴于安柏科技精湛的技術,使其性能亦無可挑剔。

    內建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測試頻率,并且提供0.1V、0.3V和1V測試電平,使其能完全滿足一般生產現場的使用。

    內置RS232C接口,兼容SCPI編程語言,很容易與計算機通訊,完成所有儀器功能。

    內置Handler接口,配合RS232C接口完成復雜的自動控制系統。
特征
  • 高亮度,超清晰四色VFD顯示。
  • 校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。
  • 第三窗口可同時顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結果。
  • 比較器(分選)功能:內建20組分選記錄,P1,P2,P3,NG,AUX 五檔分選結果顯示和輸出。
  • 自定義分選結果訊響和音量。
  • 內置RS232C接口和Handler接口。
  • 顯示亮度可調。
規格
測量參數L,C.R,Z,D,Q
基本準確度0.1%
測試頻率100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
測試量程自動、手動,6量程
測試速度15 次/秒, 5 次/秒, 3 次/秒
顯示范圍L: 0.01μH-9999H
C: 0.01pF – 9999μF
R,X,Z: 0.0001Ω - 99.99MΩ
D, 0.0001 – 9.9999
Q: 0.0001 – 9999.9
輸出阻抗30Ω和100Ω
監視參數Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%
讀數所有參數全6位:99999
等效方式串聯和并聯等效
信號電平0.1Vrms, 0.3Vrms 和 1Vrms
觸發方式內部、手動、外部和遠程
比較器P1/P2/P3/AUX/NG
比較方式SEQ/ABS/PER
校準開路清零、短路清零
訊響功能關/P1/P2/P3/AUX/OUT
接口RS232/Handler
通訊協議SCPI
電源要求AC 198V-240V, 50Hz-60Hz
15W MAX
尺寸與重量264 (寬)x107(高)x350 (深)
4kg,凈重
應用
    基礎元件和材料測量:電感器、磁芯、電容器、電阻器、變壓器等
文檔
文檔
宣傳手冊 中文(CN)

|

英文(EN)
用戶手冊 中文(CN)

|

英文(EN)
附件
標配

ATL108

ATL108

RS232通訊電纜

ATL501A

ATL501A

四端開爾文測試盒

ATL600

ATL600

短路片(數字電橋、電容電感測試儀用)

ATL601

ATL601

徑向元件測試夾具

選件

ATL508

ATL508

SMD元件測試鉗

ATL508A

ATL508A

SMD元件測試鉗

ATL608

ATL608

SMD貼片夾具

ATN2

ATN2

Handler接口

ATUSB

ATUSB

USB接口

軟件
AT810 數據采集軟件
Rev.A1.0

中文版

應用程序

免費軟件

6.5MB

ZIP

AT810 數據采集軟件(英文版)
Rev.A1.0

英文版

應用程序

免費軟件

6.2MB

RAR

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AT2811

  • 測量參數: L,C,R,Z,D,Q
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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(連續頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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AT2816B

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(37點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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AT2817

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~100kHz(16頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2817A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50/60/100/120/200/400/500/1k/2k/4k/5k/10k/20k/40k/100kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2818

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次 / 秒 10 次 / 秒,5 次 / 秒,

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AT3810A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3816A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~200kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~100kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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AT610D

  • 測量參數: C,D
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,6量程
  • 測試速度: 3 次/秒 8次/秒 20次/秒

對比

AT810A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810D

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動量程,6量程
  • 測試速度: 2 次 / 秒,5 次 / 秒

對比

AT817D

  • 測量參數: L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,
  • 20kHz,40kHz,50kHz, 100kHz(10 點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,6量程

對比

AT825

  • 測量參數: 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz,10kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT826

  • 測量參數: 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT2617

  • 測量參數: Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT827

  • 測量參數: C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒

對比

AT828

  • 測量參數: C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz,50kHz和100kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒
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