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AT2617 電容測試儀
在產
推薦型號: AT817D
100kHz
分選機增強
發郵件咨詢
RS232RS485USBHANDLER
GPIB網口選件
SCPIMODBUSTCP
數據記錄U盤存儲
概覽
    AT261X系列是電容測試儀,采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實時檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHz(AT2616)的測試頻率,并可選擇0.1V,0.3V,0.5V和1.0Vrms的測試信號電平。

    主副參數全5位顯示,可以同時顯示Z、R、A、A%的一種。高達0.1%的準確度,使本儀器可滿足自動化設備制造廠家、各元件生產和使用廠家、學校、研究所和計量質檢部門進行精確測試和批量生產的要求。

    儀器擁有專業分選功能,具有10組存儲文件,可編程3檔合格檔,1檔附屬檔(副參數不合格),1檔不合格檔和主參數HI/IN/LO檔,可設置百分比分選或絕對值分選,配備USB接口、Handler接口和RS-232C接口改良設計的AT261X,加強了整機抗干擾電路和保護電路,滿足自動化設備(分選機、老化機等)的復雜使用環境。
特征
  • 真彩TFT-LCD顯示。
  • 儲存999個LCD畫面檔案,觸發延遲
  • 校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零
  • 校準功能
  • 比較器功能(分選功能)
  • 文件功能:儀器內部Flash存儲器有10個文件可供您用來保存儀器數據,
  • 可編程1~256次平均次數,提供穩定性。
  • 自定義分選結果訊響。
  • 內置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口,可選GPIB接口。
  • SCPI和Modbus 通信協議。
規格
測量參數Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
基本準確度0.1%
測試頻率100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
測試量程自動、手動和標稱量程,9量程
測試速度30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒
顯示范圍C: 0.0001pF – 9.9999mF
R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ
D, 0.0001 – 9.9999
Q: 0.0001 – 9999.9
Δ%: -999.999% - 999.999%
輸出阻抗30Ω,100Ω
監視參數Z, R, Δ, Δ%
讀數99999
等效方式串聯和并聯等效
信號電平ACV:10.00mV~2.00V,準確度:10%,CV模式準確度:6%
平均次數1~256
觸發方式內部、手動、外部和遠程
觸發延時0.01ms~60s
比較器合格檔(BIN1-BIN3):表示主副參數均合格;
附屬檔(AUX):表示附屬檔打開時,主參數合格但副參數不合格;
不合格檔(OUT):主參數不合格,或者,附屬檔關閉時主參數合格但副參數不合格。
HI/IN/LO:主參數更詳細的比較結果,HI:主參數偏高,LO:主參數偏低,IN:主參數合格
比較方式順序/絕對偏差/相對偏差
校準開路清零、短路清零(掃頻和點頻)
文件內部存儲10個文件
外部USB存儲10個文件
數據記錄9999 組文件(.csv)
訊響功能關/合格/不合格
接口處理機(Handler)接口/RS232接口(標配) RS485接口/GPIB接口(選件)
通訊協議SCPI/Modbus
電源要求90V-260VAC,50Hz至60Hz
尺寸與重量264(寬)x107(高)x349.5 (深)
3kg,凈重
應用
    基礎元件和材料測量:電容器、電阻器、變壓器等
    元器件入料檢測
    電容器分選檢測
    用于實驗室質量控制,進料檢驗以及元器件分選
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對比

AT2811

  • 測量參數: L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.25%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動, 六量程
  • 測試速度: 慢速:3 次/秒,快速:10 次/秒

對比

AT2816A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(連續頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT2816B

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(37點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT2817

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~100kHz(16頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2817A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50/60/100/120/200/400/500/1k/2k/4k/5k/10k/20k/40k/100kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2818

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次 / 秒 10 次 / 秒,5 次 / 秒,

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AT3810A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3816A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~200kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3817A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~100kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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AT3818

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT610D

  • 測量參數: C,D
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,6量程
  • 測試速度: 3 次/秒 8次/秒 20次/秒

對比

AT810

  • 測量參數: L,C.R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動,6量程
  • 測試速度: 15 次/秒, 5 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810A

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810D

  • 測量參數: Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動量程,6量程
  • 測試速度: 2 次 / 秒,5 次 / 秒

對比

AT817D

  • 測量參數: L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,
  • 20kHz,40kHz,50kHz, 100kHz(10 點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,6量程

對比

AT825

  • 測量參數: 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz,10kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT826

  • 測量參數: 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT827

  • 測量參數: C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒

對比

AT828

  • 測量參數: C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz,50kHz和100kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒
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